彤光电子—薄膜缺陷在线膜材系列AOI

　　在薄膜的实际生产过程中，由于各方面因素的影响，薄膜表面会出现诸如孔洞、蚊虫、黑点、晶点、划伤、漏涂等瑕疵，严重影响了薄膜的质量，给生产商带来了不必要的损失。彤光电子通过多年技术及实践积累，针对不同薄膜生产工艺的特性需求以及缺陷类型，向薄膜制造商提供全面、有效、定制化解决方案。

　　膜材系列AOI幅宽: 根据客户生产线对应材料宽度定制

　　膜材系列AOI对象:光学膜、锂电隔膜、离型膜、食品包装膜、PVC、PE膜、保护膜等

　　缺陷类型:晶点、划伤、凹坑、孔洞、蚊虫、黑点、缺料、漏涂、油污等

　　缺陷缺陷标识:自动声光报警，同时在系统界面显示当前缺陷的具体图像及信息

　　历史记录:记录每一卷薄膜缺陷的总数，分布的位置、大小、面积等信息

　　应用

　　彤光电子针对薄膜表面缺陷膜材系列AOI需求提出有覆盖涂布、分切、复卷等工艺段的膜材系列AOI解决方案，助力客户提升产品质量，严格把关质检环节。

　　系统功能特点

　　彤光电子拥有完全自主研发的软件平台，包含缺陷膜材系列AOI、缺陷分类、缺陷数据存储功能。采用传统算法+AI+传统算法的算法框架，人为干预分类过程，并利用人工数学描述对疵点预分类或再分类。

　　智能分类

　　采用机器学习与深度学习引擎相结合的模式，对缺陷特征进行自主学习，实现精准自动分类。

　　分布式运算框架

　　分布式运算架构，多线程并行处理逻辑，提高在高速状态下的处理能力。

　　多样化缺陷报表

　　以表格或图形的形式对膜材系列AOI结果和统计数据进行分析。

　　智能化数据管理

　　内置缺陷数据分析引擎，对采集的缺陷数据进行多维度数据分析，周期性、连续性缺陷及时报警。

　　区域缺陷密度分析

　　软件可实时显示膜材系列AOI画面，并可实时展示缺陷分布的具体位置。同时可根据客户需求，统计区域缺陷密度。

　　跨工单分析

　　可将多时段多工单数据进行整合分析，掌握更真实的质量情况

       缺陷等级划分

       用户可使用不同颜色对缺陷的严重程度分类，同时还可按照质量要求对缺陷进行大小范围、缺陷名称定义。

缺陷报表

软件可提供丰富的定制化缺陷报表和统计分析图表，例如缺陷数量统计报表、缺陷分段统计概述表、缺陷分段记录表等。密度热力图可直观的展现统计区域的缺陷分布情况，便于客户掌握该统计区域的质量情况。