带你深入了解到底什么是整流二极管芯片自动检测AOI?

发布时间:2024-08-19

 

  产品外观是产品质量最重要的因素之一,是否平整有无瑕疵缺陷等不仅影响到产品美观,有的甚至直接影响产品本身的的使用和后续加工,给企业带来重大的经济损失。

  而在检测时,由于产品缺陷种类繁多且干扰因素众多,例如工业机器视觉检测常见的外表缺点瑕疵检测有晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷,这些都是可以经过视觉检测设备来快速、精确的完成工作。

整流二极管芯片自动检测AOI原理

  系统整体采用工业CCD相机在线图像扫描的工作原理,在生产线高速生产的状态下,采用特定波长的高亮LED工业线性聚光光源照射产品表面,同时通过工业CCD相机实时扫描并采集光源照射处的产品图像。

  系统将相机采集到的薄膜图像经过MVI图像软件算法进行瑕疵识别处理。由于瑕疵的成像图片与正常产品的成像图片存在灰阶差异,从而使的系统能够精准发现产品的缺陷;同时根据事先采集各类瑕疵的图像特征并记录缺陷库,从而实现了瑕疵的在线检测、分类与后续处置。

外观检测内容主要包含

  薄膜缺陷类型: 晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷

  无纺布缺陷类型: 污点、孔洞、熔点、亮点、昆虫等常见缺陷

  圆柱电池缺陷类型:凹坑、白斑、铁碎、凸点、划伤、丝丝、砂眼等

  铝箔表面(针孔)类型:表面针孔、硌痕、油斑、污渍、擦伤、条纹、气泡、夹杂等检测等等相关行业检测,具体了解可咨询我们视觉!

  在快速,准确,有效地分析缺陷类型的基础上,还克服了人眼的疲劳、准确性低、效率低等缺点,提高了生产效率和确保了产品质量。

针对不同类型的整流二极管芯片自动检测AOI光源方案

  不同的外观缺陷有着不同的特征,要想达到一个好的检测效果,需要对各种光源的原理及应用熟稔于心。选择合适的光源才能更高效地面对不同缺陷的需求。以下为针对不同外观缺陷样品的常用打光方案。

  针对反光且外形不规则的物体,可使用多角度多光谱光源。多光谱光源从多角度照射,可使物体表面不规则的区域展现出不同的成像特性;而反光面与粗糙面对光的散射效果不同,则可在图片上投射出不同的灰度信息。通过计算颜色分布和图像阴影变化,可准确突出物体表面的层次信息,方便后期抓取图像特征。

      针对大面积大视野的样品检测,条形光源和背光源是首选光源。大尺寸背光源,通过LED的高密度排列,提供高均匀性与高亮度的照明效果,能突出物体的外形轮廓等特征。而条光的指向性强且光线均匀,通过调整角度或者多个条光组合可检测较大面积的外观缺陷。

    针对磨砂材质的表面缺陷,可使用指向性好的光源。指向性好的光源可以突出材料表面的颗粒感;相比之下,漫射光源则会使外观缺陷的成像图没有对比度。

    针对部分需要分多次拍照且有速度要求的样品,需使用高亮光源。多工位多次拍摄成像的外观检测,需使用频闪拍照系统,且光源体积要小,重量要轻。


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