带你深入了解到底什么是整流二极管芯片自动检测AOI？

　　产品外观是产品质量最重要的因素之一，是否平整有无瑕疵缺陷等不仅影响到产品美观，有的甚至直接影响产品本身的的使用和后续加工，给企业带来重大的经济损失。

　　而在检测时，由于产品缺陷种类繁多且干扰因素众多，例如工业机器视觉检测常见的外表缺点瑕疵检测有晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷，这些都是可以经过视觉检测设备来快速、精确的完成工作。

整流二极管芯片自动检测AOI原理

　　系统整体采用工业CCD相机在线图像扫描的工作原理，在生产线高速生产的状态下，采用特定波长的高亮LED工业线性聚光光源照射产品表面，同时通过工业CCD相机实时扫描并采集光源照射处的产品图像。

　　系统将相机采集到的薄膜图像经过MVI图像软件算法进行瑕疵识别处理。由于瑕疵的成像图片与正常产品的成像图片存在灰阶差异，从而使的系统能够精准发现产品的缺陷;同时根据事先采集各类瑕疵的图像特征并记录缺陷库，从而实现了瑕疵的在线检测、分类与后续处置。

外观检测内容主要包含

　　薄膜缺陷类型： 晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷

　　无纺布缺陷类型： 污点、孔洞、熔点、亮点、昆虫等常见缺陷

　　圆柱电池缺陷类型：凹坑、白斑、铁碎、凸点、划伤、丝丝、砂眼等

　　铝箔表面(针孔)类型：表面针孔、硌痕、油斑、污渍、擦伤、条纹、气泡、夹杂等检测等等相关行业检测，具体了解可咨询我们视觉!

　　在快速，准确，有效地分析缺陷类型的基础上，还克服了人眼的疲劳、准确性低、效率低等缺点，提高了生产效率和确保了产品质量。

针对不同类型的整流二极管芯片自动检测AOI光源方案

　　不同的外观缺陷有着不同的特征，要想达到一个好的检测效果，需要对各种光源的原理及应用熟稔于心。选择合适的光源才能更高效地面对不同缺陷的需求。以下为针对不同外观缺陷样品的常用打光方案。

　　针对反光且外形不规则的物体，可使用多角度多光谱光源。多光谱光源从多角度照射，可使物体表面不规则的区域展现出不同的成像特性;而反光面与粗糙面对光的散射效果不同，则可在图片上投射出不同的灰度信息。通过计算颜色分布和图像阴影变化，可准确突出物体表面的层次信息，方便后期抓取图像特征。

      针对大面积大视野的样品检测，条形光源和背光源是首选光源。大尺寸背光源，通过LED的高密度排列，提供高均匀性与高亮度的照明效果，能突出物体的外形轮廓等特征。而条光的指向性强且光线均匀，通过调整角度或者多个条光组合可检测较大面积的外观缺陷。

　   针对磨砂材质的表面缺陷，可使用指向性好的光源。指向性好的光源可以突出材料表面的颗粒感;相比之下，漫射光源则会使外观缺陷的成像图没有对比度。

　   针对部分需要分多次拍照且有速度要求的样品，需使用高亮光源。多工位多次拍摄成像的外观检测，需使用频闪拍照系统，且光源体积要小，重量要轻。